BSD-PS型氧化鋁孔徑分析測試儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷(xiāo)海外，獲得多項國內技術(shù),。

BSD-PS型炭黑孔徑分析測試儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷(xiāo)海外，獲得多項國內技術(shù),。

BSD-PS型炭黑孔徑測試儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷(xiāo)海外，獲得多項國內技術(shù),。

BSD-PS型白炭黑孔徑測試儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷(xiāo)海外，獲得多項國內技術(shù),。

BSD-PS型白炭黑比表面孔徑測試儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷(xiāo)海外，獲得多項國內技術(shù),。